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2011年2月22日，国家科技部条财司和质检总局科技司组织专家在上海理工大学召开了“十一五”国家科技支撑计划重点项目“高分辨分光器件及接受部件（器件）的研制与开发—CCD检测器”的验收会。科技部条财司副处长郑键、质检总局科技司王越薇处长、国家图书文献信息中心吴波尔主任、国家科技基础条件平台中心张渝英副主任、上海市科委基地处张露璐、我校副校长陈斌等领导出席了验收会。
该项目由我校光电学院庄松林院士担任项目总负责人，由我校和中国电子科技集团公司第四十四研究所、上海光谱仪器有限公司共同承担完成。该项目的研究为我国摆脱高性能分光器件和接受部件依赖进口的现状，实现关键器件的国产化，提高我国先进光谱仪器的技术水平起到了重大的推动作用。
我校庄松林院士带领团队人员采用紫外增强膜技术、复合膜等先进技术全面完成了面阵CMOS、面阵CCD检测器紫外增强技术的研究，研制与开发了离子束蚀刻平像场凹面全息光栅、凸面光栅等，综合技术处于国内领先水平。
项目组发表了科技论文24篇，申请了国内专利14项。项目研究团队还在该课题的实施中建成了全息光栅生产基地、CCD紫外增强膜生产基地、2048元线阵CCD基片中试线、检测器性能评价系统生产基地，为我国新的科学仪器的开发奠定了基础。
李同保院士作为专家组组长主持了专家验收会，验收专家组查看并审阅了课题组提供的验收资料，听取了课题执行情况自评价汇报、课题研究报告、财务验收申请报告、测试专家组测试报告，经过质询、答疑和认真讨论后，验收专家组认为：项目达到了任务书规定的全部指标，同意该项目通过验收。
郑健副处长对项目顺利通过表示祝贺，并表示科学仪器的研究正面临“天时、地利、人和”的大好环境，鼓励科研工作者在我国先进科学仪器的研究方面做出更新更好的成绩。